TESCAN

Tescan je český výrobce elektronových mikroskopů a dalších analytických přístrojů. Sídlo společnosti je v Brně, které je tradičním výzkumným centrem elektronové mikroskopie. Podnik založilo v roce 1991 pět bývalých zaměstnanců Tesly Brno. Jeho přístroje se používají ve více než 80 zemích ve výzkumu materiálů a biologických věd, polovodičovém průmyslu, průmyslové výrobě a akademickém výzkumu.

Současnou hlavní právnickou osobou je TESCAN GROUP, a.s., která je od července 2026 součástí japonské společnosti Shimadzu.

Historie

Vývoj společnosti navazoval na brněnskou výrobu elektronových mikroskopů, která se od konce 40. let 20. století rozvíjela na Vysokém učení technickém v Brně a později v podniku Tesla Brno. Po rozpadu Tesly na počátku 90. let přešla část jejích pracovníků do nově vznikajících společností zaměřených na elektronovou mikroskopii.

90. léta 20. století

Společnost TESCAN, s.r.o., založili v roce 1991 bývalí vývojoví a servisní pracovníci Tesly Jaroslav Klíma, Josef Melkes, Petr Peřina, Ivan Dvořák a Jan Zounek. Název vznikl spojením částí slov Tesla a scanning. Zpočátku se společnost zabývala opravami a úpravami starších elektronových mikroskopů, výrobou programovatelných řídicích jednotek, digitizérů pro analogové rastrovací elektronové mikroskopy a dalšího příslušenství.

V roce 1994 zahájila společnost spolupráci s Vysokým učením technickým v Brně, zpočátku při vývoji tunelového mikroskopu. První vlastní počítačem řízený rastrovací elektronový mikroskop PROXIMA uvedla v roce 1996. V roce 1999 následovala řada VEGA vybavená modulem vzdáleného řízení.

2000–2009

Mikroskop VEGA TS 5130 MM získal v roce 2001 zlatou medaili na Mezinárodním strojírenském veletrhu v Brně a projekt VEGA obdržel ocenění Inženýrské akademie České republiky za technické dílo. Na tuto řadu navázaly v letech 2005 a 2007 mikroskopy MIRA I FE-SEM a LYRA I FIB-SEM.

Od roku 2003 společnost působila na čínském trhu a v roce 2009 založila vlastní pobočku v Šanghaji.

2010–2019

V roce 2010 společnost změnila právní formu ze společnosti s ručením omezeným na akciovou společnost TESCAN, a.s. Současně získala většinový podíl ve svém americkém distributorovi TESCAN USA Inc. Do roku 2011 prodala více než tisíc elektronových mikroskopů a v roce 2012 dodávala přístroje do 60 zemí.

V roce 2013 společnost dokončila novou výrobní budovu v Brně, jejímž otevřením zdvojnásobila výrobní kapacitu. V té době vyráběla přibližně 250 mikroskopů ročně a měla vlastní pobočky ve Spojených státech a Číně. V srpnu 2013 převzala francouzskou společnost Orsay Physics, se kterou předtím pět let spolupracovala a od níž odebírala iontové sloupce pro přístroje s fokusovaným iontovým svazkem. Spojením společností vznikla TESCAN ORSAY HOLDING a.s.

Tescan v roce 2011 získal licenci k výrobě holografického mikroskopu vyvinutého týmem Vysokého učení technického v Brně vedeným Radimem Chmelíkem. V roce 2015 byla technologie převedena do průmyslové výroby v podobě multimodálního holografického mikroskopu Q-PHASE.

V roce 2017 společnost po tříletém vývoji představila rastrovací elektronový mikroskop AMBER, který kombinoval elektronový a iontový svazek a umožňoval připojení dalších detektorů. V následujících letech holding rozšířil činnost o rentgenovou mikrotomografii převzetím belgické společnosti XRE. Výrobu mikrotomografů následně umístil také do Brna. Do roku 2019 převzal německého distributora EOS, vstoupil na japonský trh a zahájil výstavbu další budovy v brněnském areálu.

Od roku 2020

Pandemie covidu-19 v roce 2020 zpozdila vývoj kombinovaného rastrovacího a transmisního elektronového mikroskopu. V roce 2021 společnost připravovala jeho zkušební prototyp a pokračovala v rozšiřování výroby transmisních elektronových mikroskopů. Ve stejném roce otevřela pobočka v Šanghaji nové sídlo s demonstrační laboratoří.

Po ruské invazi na Ukrajinu v únoru 2022 společnost ukončila činnost na ruském trhu a zrušila tamní objednávky v hodnotě přes 60 milionů Kč. Upravené přístroje následně prodala na jiných trzích. V témže roce dosavadní vlastníci zahájili proces prodeje společnosti. Na konci roku 2022 získala většinový podíl americká investiční společnost Carlyle. Hodnota transakce byla odhadována na sedm až devět miliard Kč. V následujícím roce byla dokončena fúze společností skupiny do nástupnické společnosti TESCAN GROUP, a.s. V květnu 2023 nahradil Jaroslava Klímu ve funkci generálního ředitele Jean-Charles Chen. Klíma poté ve společnosti působil jako poradce.

V červenci 2024 uzavřely Tescan a japonská společnost Shimadzu obchodní alianci. Spolupráce zahrnovala distribuci elektronových mikroskopů na japonském trhu a uvádění společně označených přístrojů. V prosinci 2025 Shimadzu oznámila dohodu o převzetí společnosti od skupiny Carlyle. Předběžná hodnota transakce byla stanovena na 678 milionů dolarů, přibližně 14 miliard Kč. V červenci 2026 bylo převzetí dokončeno a Tescan se stal součástí skupiny Shimadzu. Konečná cena transakce činila 711 milionů dolarů.

Produkty

Tescan vyrábí rastrovací elektronové mikroskopy (SEM), kombinované systémy FIB-SEM, rentgenové mikrotomografy (micro-CT), rastrovací transmisní elektronové mikroskopy (STEM), laserové systémy a zařízení pro přípravu vzorků.

Rastrovací elektronové mikroskopy společnosti lze dělit podle typu zdroje elektronů na autoemisní a termoemisní, podle velikosti komory, na klasické a kombinované a podle pracovního vakua.

Autoemisní a termoemisní

Autoemisní mikroskopy značky Tescan lze podle jejich určení rozdělit na přístroje s FEG (Field Emission Gun – autoemisní nebo Schottkyho katoda) tubusem pro analytické aplikace a na přístroje s FEG tubusem pro ultravysoké rozlišení.

Termoemisní mikroskopy využívají jako zdroj elektronů wolframová vlákna nebo vlákna LaB6.

Klasické a kombinované

Klasické rastrovací elektronové mikroskopy disponují pouze FEG tubusem nebo pracují s termoemisními elektronovými zdroji, jako jsou wolframová vlákna nebo vlákna LaB6. Nejsou tedy vybaveny FIB tubusem.

Kombinované SEM využívají kombinaci iontových a elektronových svazků a lze je dále dělit podle druhu FIB (soustředěného iontového svazku). Kombinací dvou základních FEG tubusů a dvou typů FIB tubusů vznikají čtyři kombinace iontových a elektronových svazků.

Nízké a vysoké vakuum

Mikroskopy značky Tescan schopné pracovat v režimu nízkého vakua jsou označeny písmenem „U“ (např. MIRA3 LMU), zatímco mikroskopy pracující ve vysokém vakuu jsou označeny písmenem „H“ (např. MIRA3 LMH).

Model Typ Produktová řada Specifikace Vyrábí se k červenci 2026 VEGA3 SEM VEGA Termoemisní SEM se žhaveným wolframovým vláknem. ne MIRA3 SEM MIRA FEG-SEM pro analytické aplikace. ne MAIA3 SEM MAIA Autoemisní SEM pro ultravysoké rozlišení. ne VEGA SEM VEGA Termoemisní SEM s wolframovým zdrojem pro rutinní zobrazování a analýzu. ano VEGA Compact SEM VEGA Kompaktní analytický SEM s integrovanou EDS pro rutinní materiálovou analýzu. ano MIRA SEM MIRA Modulární Schottkyho FEG-SEM pro analytický výzkum a analýzu poruch. ano MIRA XR SEM MIRA FEG-SEM s ultravysokým rozlišením určený pro sdílené laboratoře a kontrolu kvality. ano CLARA SEM CLARA SEM s ultravysokým rozlišením a optikou bez magnetického pole pro zobrazování citlivých a nevodivých vzorků. ano MAGNA SEM MAGNA Imerzní SEM s ultravysokým rozlišením a integrovanou funkcí STEM-in-SEM. ano TIMA SEM TIMA Automatizovaný mineralogický SEM-EDS pro kvantitativní analýzu jednotlivých částic. ano FERA3 FIB-SEM FERA Schottkyho FEG-SEM s xenonovým plazmovým FIB. ne XEIA3 FIB-SEM XEIA SEM s ultravysokým rozlišením a xenonovým plazmovým FIB. ne LYRA3 FIB-SEM LYRA Schottkyho FEG-SEM s galiovým FIB. ne GAIA3 FIB-SEM GAIA SEM s ultravysokým rozlišením a galiovým FIB. ne AMBER 2 FIB-SEM AMBER Automatizovaný Ga+ FIB-SEM pro přípravu vzorků pro TEM a nanometrové prototypování. ano AMBER X 2 FIB-SEM AMBER X FIB-SEM s xenonovým plazmovým zdrojem pro přípravu vzorků a multimodální 3D analýzu. ano SOLARIS 2 FIB-SEM SOLARIS Ga+ FIB-SEM pro automatizovanou přípravu vzorků pro TEM v polovodičových aplikacích. ano SOLARIS X 2 FIB-SEM SOLARIS X FIB-SEM s xenonovým plazmovým zdrojem pro analýzu poruch polovodičů a přípravu vzorků pro TEM bez použití galia. ano UniTOM HR 2 Micro-CT UniTOM HR Dynamický micro-CT propojující rychlé 4D pozorování se zobrazováním ve vysokém rozlišení. ano UniTOM XL Micro-CT UniTOM XL Velkoobjemový micro-CT pro nedestruktivní 3D a 4D zobrazování rozměrných vzorků. ano CoreTOM Micro-CT CoreTOM Velkoobjemový micro-CT pro zobrazování rozměrných součástí a vzorků. ano DynaTOM Micro-CT DynaTOM Dynamický micro-CT s portálovou konstrukcí pro nepřerušované 4D experimenty in situ. ano TENSOR STEM TENSOR Integrovaný analytický STEM kombinující zobrazování, EDS a 4D-STEM. ano FemtoChisel Laserové systémy FemtoChisel Femtosekundový laserový systém pro přípravu vzorků a mikro- a nanoobrábění. ano EXLO Příprava a přenos vzorků EXLO Systém pro přenos lamel a jejich upevnění na mřížku mimo FIB-SEM. ano QuiiN Iontová implantace QuiiN Víceiontový implantační systém kombinující elektrostatický SEM s FIB tubusem. ano NanoSpace UHV FIB-SEM NanoSpace Modulární systém pro ultravysoké vakuum konfigurovatelný jako SEM nebo FIB-SEM. ano

Odkazy

Reference

Externí odkazy

Oficiální stránky () Stručná charakteristika firmy Historický vývoj elektronové mikroskopie v Brně Elektronová mikroskopie v Brně slavila svátek Světová jednička mezi mikroskopy pochází z TESCANU

Kategorie:Firmy v Brně Kategorie:Nadnárodní korporace Kategorie:Elektronické firmy Kategorie:Optické firmy Kategorie:Nanotechnologie