Ганіаметрыя — сістэма і метад вымярэння вуглоў паміж гранямі крышталяў. З развіццем рэнтгенаграфіі гэты метад страціў сваю ролю як асноўны ў геаметрычнай крышталяграфіі, аднак ён захоўвае свае значэнне ў марфалогіі і тэорыі росту крышталяў.
Пры класіфікацыі па крышталічных сістэмах і вымярэнні знешняй формы крышталя па ганіаметрыі, сукупнасць магчымых паверхняў аказваецца той жа і для гексаганальнага, і для трыганальнага крышталя. Таму некаторыя аўтары аб'ядноўваюць іх у адну сістэму, што дае ў суме 6 сістэм замест 7.
Катэгорыя:Крышталяграфія